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Apéndice A5. Factor de dispersión¶
Scattering Factor lista los planos cristalinos permitidos (reflexiones) del cristal seleccionado y calcula el factor de estructura y la intensidad de difracción de cada uno. El tipo de radiación (rayos X, electrones o neutrones) se puede cambiar, de modo que los factores de estructura de un mismo cristal pueden compararse entre técnicas de difracción.
En IPAnalyzer, esta subventana se abre desde la Crystal window (el CrystalControl utilizado en 4. Practical procedures para la calibración geométrica y en 6. Find Parameter (brute force)).
Las condiciones de cálculo se encuentran en la parte superior de la ventana y la lista de reflexiones en la parte inferior. La lista se vuelve a calcular de inmediato cada vez que cambia una condición.
Atajos de teclado y ratón¶
Esta ventana no tiene combinaciones especiales de teclas ni de ratón. F1 abre esta página del manual, y Copy to clipboard exporta toda la tabla de reflexiones como texto pegable en una hoja de cálculo.
Wave Length Control¶
- X-ray / Electron / Neutron : los factores de dispersión atómicos difieren según el tipo de haz incidente, por lo que se cambian aquí.
- Para X-ray, al elegir el Element (material del ánodo) y la línea característica (Kα, etc.) se establece automáticamente la longitud de onda de ese rayo X característico.
- Energy (keV) y Wavelength (Å) están vinculados entre sí.
- Esta energía o longitud de onda se utiliza para calcular 2θ (el ángulo de difracción). Para X-ray también puede establecerse mediante la selección del elemento y el tipo de línea.
Opciones de visualización y cálculo¶
- Powder Diffraction Intensities (Bragg-Brentano Optics) : calcula la intensidad relativa como una intensidad de difracción de polvo (Bragg–Brentano), incluyendo la multiplicidad y el factor de Lorentz–polarización. Cuando está desactivado, muestra la intensidad del factor de estructura.
- Hide equivalent planes : agrupa los planos cristalográficamente equivalentes en una sola entrada.
- Hide prohibited planes : excluye los planos cuya intensidad es cero según las reglas de extinción.
- Unit (Å / nm) : cambia la unidad de longitud para el d-spacing, etc.
- d-Spacing Cutoff : excluye las reflexiones con un d-spacing menor que este valor.
Lista de reflexiones¶
Cada fila corresponde a una reflexión (o a un grupo de planos equivalentes por simetría).
| Columna | Significado |
|---|---|
| h, k, l | índices de Miller |
| Multi. | multiplicidad (número de planos equivalentes por simetría) |
| d (Å) | espaciado interplanar |
| q (2π/d) | magnitud del vector de dispersión |
| 2θ (°) | ángulo de difracción para la longitud de onda seleccionada |
| F_real | parte real del factor de estructura |
| F_inv | parte imaginaria del factor de estructura |
| |F| | amplitud del factor de estructura (\(= \sqrt{F_\text{real}^2 + F_\text{inv}^2}\)) |
| F^2 | intensidad del factor de estructura (\(\lvert F\rvert^2\)) |
| Rel. Int. (%) | intensidad relativa, con la reflexión más fuerte fijada en 100 |
Copy to Clipboard¶
Copy to Clipboard copia la lista al portapapeles como texto que puede pegarse en una hoja de cálculo como Excel.
Véase también¶
- Appendix top
- 4. Practical procedures — definición del cristal de referencia cuyos factores de estructura se calculan.
- 6. Find Parameter (brute force)