Снимки экрана на английском
Интерфейс IPAnalyzer в настоящее время локализован только на английский и японский языки, поэтому снимки экрана на этой странице показаны на английском, даже если текст переведён.
Приложение A5. Фактор рассеяния¶
Scattering Factor выводит список разрешённых кристаллических плоскостей (рефлексов) выбранного кристалла и вычисляет структурный фактор и дифракционную интенсивность каждого из них. Тип излучения (рентгеновское, электронное или нейтронное) можно переключать, поэтому структурные факторы одного и того же кристалла можно сравнивать между разными дифракционными методиками.
В IPAnalyzer это вспомогательное окно открывается из Crystal window (CrystalControl, используемого в 4. Practical procedures для геометрической калибровки и в 6. Find Parameter (brute force)).
Условия расчёта расположены в верхней части окна, а список рефлексов — в нижней. Список пересчитывается немедленно при любом изменении условий.
Сочетания клавиш и мыши¶
В этом окне нет особых сочетаний клавиш или мыши. F1 открывает эту страницу руководства, а Copy to clipboard экспортирует всю таблицу рефлексов в виде текста, пригодного для вставки в таблицу.
Wave Length Control¶
- X-ray / Electron / Neutron : атомные факторы рассеяния различаются в зависимости от типа падающего пучка, поэтому они переключаются здесь.
- Для X-ray выбор Element (материала анода) и характеристической линии (Kα и т. д.) автоматически задаёт длину волны этого характеристического рентгеновского излучения.
- Energy (keV) и Wavelength (Å) связаны друг с другом.
- Эта энергия или длина волны используется для вычисления 2θ (угла дифракции). Для X-ray её также можно задать через выбор элемента и типа линии.
Параметры отображения и расчёта¶
- Powder Diffraction Intensities (Bragg-Brentano Optics) : вычисляет относительную интенсивность как интенсивность порошковой дифракции (Bragg–Brentano), включая множитель повторяемости и фактор Лоренца–поляризации. Когда выключено, отображается интенсивность структурного фактора.
- Hide equivalent planes : объединяет кристаллографически эквивалентные плоскости в одну запись.
- Hide prohibited planes : исключает плоскости, интенсивность которых равна нулю по правилам погасания.
- Unit (Å / nm) : переключает единицу длины для d-spacing и т. п.
- d-Spacing Cutoff : исключает рефлексы с d-spacing меньше этого значения.
Список рефлексов¶
Каждая строка соответствует одному рефлексу (или группе эквивалентных по симметрии плоскостей).
| Столбец | Значение |
|---|---|
| h, k, l | индексы Миллера |
| Multi. | множитель повторяемости (число эквивалентных по симметрии плоскостей) |
| d (Å) | межплоскостное расстояние |
| q (2π/d) | модуль вектора рассеяния |
| 2θ (°) | угол дифракции для выбранной длины волны |
| F_real | действительная часть структурного фактора |
| F_inv | мнимая часть структурного фактора |
| |F| | амплитуда структурного фактора (\(= \sqrt{F_\text{real}^2 + F_\text{inv}^2}\)) |
| F^2 | интенсивность структурного фактора (\(\lvert F\rvert^2\)) |
| Rel. Int. (%) | относительная интенсивность, где самый сильный рефлекс принят за 100 |
Copy to Clipboard¶
Copy to Clipboard копирует список в буфер обмена в виде текста, который можно вставить в электронную таблицу, например Excel.
См. также¶
- Appendix top
- 4. Practical procedures — задание эталонного кристалла, для которого вычисляются структурные факторы.
- 6. Find Parameter (brute force)