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Appendix A5. Fattore di diffusione

Scattering Factor elenca i piani cristallini consentiti (riflessioni) del cristallo selezionato e ne calcola il fattore di struttura e l'intensità di diffrazione per ciascuno. Il tipo di radiazione (raggi X, elettroni o neutroni) può essere commutato, in modo da poter confrontare i fattori di struttura dello stesso cristallo tra le diverse tecniche di diffrazione.

In IPAnalyzer, questa sotto-finestra si apre dalla Crystal window (il CrystalControl utilizzato in 4. Practical procedures per la calibrazione geometrica e in 6. Find Parameter (brute force)).

Scattering Factor

Le condizioni di calcolo si trovano nella parte superiore della finestra e l'elenco delle riflessioni in quella inferiore. L'elenco viene ricalcolato immediatamente ogni volta che una condizione cambia.


Scorciatoie da tastiera e mouse

Questa finestra non ha combinazioni speciali di tasti o mouse. F1 apre questa pagina del manuale e Copy to clipboard esporta l'intera tabella delle riflessioni come testo incollabile in un foglio di calcolo.


Wave Length Control

  • X-ray / Electron / Neutron : i fattori di diffusione atomici differiscono a seconda del tipo di fascio incidente, quindi vengono commutati qui.
  • Per X-ray, la scelta dell'Element (materiale dell'anodo) e della linea caratteristica (Kα, ecc.) imposta automaticamente la lunghezza d'onda di quel raggio X caratteristico.

Wave Length Control

  • Energy (keV) e Wavelength (Å) sono collegati tra loro.
  • Questa energia o lunghezza d'onda viene utilizzata per calcolare 2θ (l'angolo di diffrazione). Per i raggi X può anche essere impostata tramite la selezione dell'elemento e del tipo di linea.

Opzioni di visualizzazione e calcolo

  • Powder Diffraction Intensities (Bragg-Brentano Optics) : calcola l'intensità relativa come intensità di diffrazione di polveri (Bragg–Brentano), includendo la molteplicità e il fattore di Lorentz–polarizzazione. Quando è disattivata, visualizza l'intensità del fattore di struttura.
  • Hide equivalent planes : raggruppa i piani cristallograficamente equivalenti in un'unica voce.
  • Hide prohibited planes : esclude i piani la cui intensità è zero per le regole di estinzione.
  • Unit (Å / nm) : commuta l'unità di lunghezza per il d-spacing, ecc.
  • d-Spacing Cutoff : esclude le riflessioni con un d-spacing inferiore a questo valore.

Elenco delle riflessioni

Ogni riga corrisponde a una riflessione (o a un gruppo di piani simmetricamente equivalenti).

Column Significato
h, k, l indici di Miller
Multi. molteplicità (numero di piani simmetricamente equivalenti)
d (Å) distanza interplanare
q (2π/d) modulo del vettore di diffusione
2θ (°) angolo di diffrazione per la lunghezza d'onda selezionata
F_real parte reale del fattore di struttura
F_inv parte immaginaria del fattore di struttura
|F| ampiezza del fattore di struttura (\(= \sqrt{F_\text{real}^2 + F_\text{inv}^2}\))
F^2 intensità del fattore di struttura (\(\lvert F\rvert^2\))
Rel. Int. (%) intensità relativa, con la riflessione più intensa impostata a 100

Copy to Clipboard

Copy to Clipboard copia l'elenco negli appunti come testo che può essere incollato in un foglio di calcolo come Excel.


Vedi anche