Снимки экрана на английском

Интерфейс IPAnalyzer в настоящее время локализован только на английский и японский языки, поэтому снимки экрана на этой странице показаны на английском, даже если текст переведён.

Приложение¶

Это приложение обобщает теоретические основы геометрии и алгоритмов, которые IPAnalyzer использует при преобразовании двумерного дифракционного изображения (кольца Дебая–Шеррера) в высокоточный одномерный профиль. По вопросам рабочих процедур и использования каждой функции обращайтесь к основному руководству (0. Обзор, 4. Процедуры и т. д.). Здесь мы поясняем с помощью уравнений лежащие в основе определения системы координат, преобразования координат, методы определения параметров и алгоритм интегрирования.

Содержание основано на устаревшем документе doc/IPAnalyzerAlgorithm.pdf, включённом в дистрибутивный пакет, и на текущей реализации.

Структура приложения¶

A1. Геометрия детектора и преобразования координат — определение правосторонней системы координат, матрицы поворота, описывающие наклон IP ($\varphi,\ \tau$), и коррекция формы пикселя ($\mathrm{PixSizeX},\ \mathrm{PixSizeY},\ \xi$).
A2. Определение параметров — калибровка длины камеры, длины волны, размера пикселя и наклона IP с использованием эталонного материала (метод двух расстояний, метод двух линий, аппроксимация эллипсом).
A3. Интегрирование изображения — алгоритм разбиения площадей, который распределяет интенсивности пикселей по угловым шагам.
A4. Сведения о симметрии — симметрия пространственной группы, геометрические расчёты, позиции Вайкоффа, условия отражения и диаграммы элементов симметрии эталонного кристалла (вложенное окно окна Crystal).
A5. Фактор рассеяния — структурные факторы и список отражений эталонного кристалла (рентгеновское, электронное, нейтронное) (вложенное окно окна Crystal).

Система координат (общий справочный рисунок)¶

Каждая из последующих страниц предполагает одну и ту же систему координат в качестве общей предпосылки. Начало координат — прямой рефлекс на IP (точка, где пучок пересекает IP), ось $Z$ — направление распространения пучка, а образец расположен в $(0,\ 0,\ -\mathrm{CL})$.

$Coordinate system of IPAnalyzer. It shows the IP (imaging plate), the X / Y / Z axes, the Debye rings, the tilt angles φ and τ, the sample at (0,0,−CL), the camera length CL, the diffraction angle 2θ, the wavelength λ, and the pixel shape (PixSizeX, PixSizeY, ξ).$

Основные параметры¶

Symbol	Name	Meaning
$\lambda$	Wave Length	Длина волны источника. Известна для характеристического рентгеновского излучения; для синхротронного излучения она зависит от положения монохроматора и должна определяться каждый раз.
$\mathrm{CL}$	Camera Length	Расстояние между образцом и началом координат (прямым рефлексом). Положение образца — $(0,0,-\mathrm{CL})$.
$\varphi,\ \tau$	Tilt Correction	Наклон IP относительно оптической оси (ось $Z$). $\varphi$ — азимут оси наклона в плоскости XY, а $\tau$ — угол поворота вокруг этой оси.
$\mathrm{PixSizeX},\ \mathrm{PixSizeY},\ \xi$	Pixel Size	Представляет пиксель в виде параллелограмма. $\xi$ — смещение начальной точки сканирования считывающего лазера (угол искажения).

Эти значения задаются на вкладке IP Condition окна свойств (см. 2. Окна свойств).

Symbol	Name	Meaning
\(\lambda\)	Wave Length	Длина волны источника. Известна для характеристического рентгеновского излучения; для синхротронного излучения она зависит от положения монохроматора и должна определяться каждый раз.
\(\mathrm{CL}\)	Camera Length	Расстояние между образцом и началом координат (прямым рефлексом). Положение образца — \((0,0,-\mathrm{CL})\).
\(\varphi,\ \tau\)	Tilt Correction	Наклон IP относительно оптической оси (ось \(Z\)). \(\varphi\) — азимут оси наклона в плоскости XY, а \(\tau\) — угол поворота вокруг этой оси.
\(\mathrm{PixSizeX},\ \mathrm{PixSizeY},\ \xi\)	Pixel Size	Представляет пиксель в виде параллелограмма. \(\xi\) — смещение начальной точки сканирования считывающего лазера (угол искажения).