Capturas de tela em inglês

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Apêndice¶

Este apêndice resume o embasamento teórico da geometria e dos algoritmos que o IPAnalyzer utiliza ao converter uma imagem de difração bidimensional (anéis de Debye–Scherrer) em um perfil unidimensional de alta precisão. Para procedimentos operacionais e instruções de uso de cada recurso, consulte o manual principal (0. Visão geral, 4. Procedimentos práticos, etc.). Aqui explicamos, com equações, as definições do sistema de coordenadas, as transformações de coordenadas, os métodos de determinação de parâmetros e o algoritmo de integração por trás disso.

O conteúdo baseia-se no documento legado doc/IPAnalyzerAlgorithm.pdf incluído no pacote de distribuição e na implementação atual.

Estrutura do apêndice¶

A1. Geometria do detector e transformações de coordenadas — definição do sistema de coordenadas destro, as matrizes de rotação que descrevem a inclinação da IP ($\varphi,\ \tau$) e a correção da forma do pixel ($\mathrm{PixSizeX},\ \mathrm{PixSizeY},\ \xi$).
A2. Determinação de parâmetros — calibração do comprimento de câmara, comprimento de onda, tamanho do pixel e inclinação da IP usando um material de referência (método de duas distâncias, método de duas linhas, ajuste de elipse).
A3. Integração da imagem — o algoritmo de particionamento de área que distribui as intensidades dos pixels em passos angulares.
A4. Informação de simetria — simetria do grupo espacial, cálculos geométricos, posições de Wyckoff, condições de reflexão e diagramas de elementos de simetria do cristal padrão (uma subjanela da janela Crystal).
A5. Fator de espalhamento — fatores de estrutura e a lista de reflexões do cristal padrão (raios X, elétrons, nêutrons) (uma subjanela da janela Crystal).

Sistema de coordenadas (figura de referência comum)¶

Cada uma das páginas a seguir pressupõe o mesmo sistema de coordenadas como premissa comum. A origem é o ponto direto (direct spot) na IP (o ponto onde o feixe intercepta a IP), o eixo $Z$ é a direção de propagação do feixe e a amostra está localizada em $(0,\ 0,\ -\mathrm{CL})$.

$Coordinate system of IPAnalyzer. It shows the IP (imaging plate), the X / Y / Z axes, the Debye rings, the tilt angles φ and τ, the sample at (0,0,−CL), the camera length CL, the diffraction angle 2θ, the wavelength λ, and the pixel shape (PixSizeX, PixSizeY, ξ).$

Parâmetros principais¶

Símbolo	Nome	Significado
$\lambda$	Wave Length	Comprimento de onda da fonte. Conhecido para raios X característicos; para radiação síncrotron varia com a posição do monocromador e deve ser determinado a cada vez.
$\mathrm{CL}$	Camera Length	Distância entre a amostra e a origem (direct spot). A posição da amostra é $(0,0,-\mathrm{CL})$.
$\varphi,\ \tau$	Tilt Correction	Inclinação da IP em relação ao eixo óptico (eixo $Z$). $\varphi$ é o azimute do eixo de inclinação no plano XY e $\tau$ é o ângulo de rotação em torno desse eixo.
$\mathrm{PixSizeX},\ \mathrm{PixSizeY},\ \xi$	Pixel Size	Representa um pixel como um paralelogramo. $\xi$ é o deslocamento do ponto inicial de varredura do laser de leitura (ângulo de distorção).

Esses valores são definidos na aba IP Condition da janela de propriedades (consulte 2. Janelas de propriedades).

Símbolo	Nome	Significado
\(\lambda\)	Wave Length	Comprimento de onda da fonte. Conhecido para raios X característicos; para radiação síncrotron varia com a posição do monocromador e deve ser determinado a cada vez.
\(\mathrm{CL}\)	Camera Length	Distância entre a amostra e a origem (direct spot). A posição da amostra é \((0,0,-\mathrm{CL})\).
\(\varphi,\ \tau\)	Tilt Correction	Inclinação da IP em relação ao eixo óptico (eixo \(Z\)). \(\varphi\) é o azimute do eixo de inclinação no plano XY e \(\tau\) é o ângulo de rotação em torno desse eixo.
\(\mathrm{PixSizeX},\ \mathrm{PixSizeY},\ \xi\)	Pixel Size	Representa um pixel como um paralelogramo. \(\xi\) é o deslocamento do ponto inicial de varredura do laser de leitura (ângulo de distorção).