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回折シミュレータ (Crystal Diffraction)

Crystal Diffraction は、単結晶X線回折および電子線回折パターンをシミュレーションします。

回折シミュレータ


メインエリア

画面中央に回折パターンがシミュレーションされます。

マウス操作

操作 動作
左ドラッグ 回転
中ドラッグ 平行移動
右ドラッグ ズームイン
右クリック ズームアウト
左ダブルクリック 選択スポットの詳細情報表示

マウス位置: カーソル位置に対応する情報が表示されます。詳細 をチェックするとより詳細な情報を表示。


ファイルメニュー

メニュー項目 説明
Save / Save detector area 表示画像/検出器領域画像を保存
Copy / Copy detector area 表示画像/検出器領域画像をコピー

プリセット


ツールバー

ツールバー

ボタン 説明
回折斑点 回折スポットの表示/非表示
菊池線 菊池線の表示/非表示
デバイリング デバイリングの表示/非表示
目盛線 スケール線の表示/非表示
面指数 / d値 / 距離 / 励起誤差 / 構造因子 スポットラベルの選択

画面 / 検出器情報

画面

画面

  • 解像度: 1ピクセルのサイズ (mm)。表示スケールのパラメータであり、マウスズームで変化。
  • Size (W×H): 描画領域のピクセル数 (幅×高さ)。
  • 中心をセット / 中心を固定: パターン中心の設定・固定。
  • 水平反転 / 垂直反転 / ネガティブ画像: パターンの反転・白黒反転。
  • 逆空間表示: エワルド球と逆格子ベクトルを描画。

その他

その他

  • 回転の感度: マウスドラッグ時の回転量。
  • TEM ホルダーシミュレーション: ホルダー連動シミュレーションウィンドウを開く(下記参照)。

TEM ホルダーシミュレーション

回折図形をダブルティルト(または回転)の TEMホルダー と連動させるウィンドウを開きます。ホルダーの傾斜角を設定するとパターンと結晶方位が更新され、到達可能な方位をステレオネット上に表示できます(ver4.914 で追加)。

TEMホルダーシミュレーション

検出器情報

検出器情報

  • カメラ長2: 試料から検出器までの距離 (mm)。
  • 詳細: 光学系設定ウィンドウを開く。

タブメニュー

一般 (General)

一般タブ

スポット、ラベル、菊池線等の色を設定。

菊池線 (Kikuchi lines)

菊池線タブ

ツールバーで菊池線が有効の場合にアクティブ。描画する菊池線の選定基準を 結晶構造因子トップ N 本)または 1/d の閾値(< X nm⁻¹)で指定します。線の太さ菊池線の色運動学的な回折強度に従って描画する も設定できます。

デバイリング (Debye rings)

デバイリングタブ

デバイリングが有効の場合にアクティブ。

目盛り線 (Scale)

目盛り線タブ


スポット特性 (Spot property)

ツールバーで 回折斑点 が有効の場合にアクティブ。

波長

波長

入射ビーム

入射ビームモード

モード 説明
平行 平行入射ビーム
歳差 (電子) 歳差電子回折 (PED)。自動的に動力学理論に設定
収束 (CBED, 電子線のみ) 収束ビーム (CBED)。自動的に動力学理論に設定、CBED設定ウィンドウが開く

強度計算

強度計算

方法 説明
励起誤差のみ考慮 エワルド球と逆格子点の幾何学的距離に基づく強度
運動学的効果 励起誤差に加え結晶構造因子を反映
動力学的効果 ブロッホ波法(電子線のみ)

外観

外観

ブロッホ波パラメータ(動力学理論)

ブロッホ波パラメータ

  • 回折波の数: 動力学計算に含めるブロッホ波の数
  • 試料厚み: 試料の厚さ

歳差パラメータ

歳差パラメータ

  • 半頂角: 歳差の半角
  • ステップ: サンプリングするビーム方向数

検出器ジオメトリ(詳細)

検出器ジオメトリ設定

検出器ジオメトリ設定

検出器領域と重畳画像

検出器領域と重畳画像

検出器座標系 も参照。


回折スポット情報

ベーテの動力学理論(ブロッホ波法)で計算された各反射の詳細を一覧表示します。スポットの詳細情報ボタン(強度計算パネル)または詳細チェックボックスで開きます。

回折スポット情報

模式図と定義

左上の模式図は、エワルド球上のベクトルと、表で使う量の定義を示します( は試料表面の法線方向の単位ベクトル、k は入射波数ベクトル、g は逆格子ベクトル)。

  • P_g = 2 n̂·(k + g)
  • Q_g = |k|² − |k + g|² = −g·(2k + g)
  • 励起誤差 S_g = ( √(P_g² + 4Q_g) − P_g ) / 2
  • 評価関数 R = |g|·Q_g² — 反射を励起の強さで順位付けする量(小さいほどエワルド球に近く=強く励起される。透過波 g=0 は R=0 で先頭)。表は R の昇順に並びます。

表の各列

意味
R 評価関数 R = |g|·Q_g²(上記。反射の選択・並べ替えに使用)
h, k, (i,) l ミラー指数(i は六方晶の冗長指数で、六方晶のときのみ)
d 面間隔(nm)
gX, gY, gZ 逆格子ベクトル g の成分(1/nm)
|g| g の大きさ(1/nm)
Vg re / Vg im 弾性散乱に対する結晶ポテンシャルのフーリエ係数 V_g(実部・虚部)
V'g re / V'g im 熱散漫散乱(TDS)に対応する虚(吸収)ポテンシャル V'_g(実部・虚部)
Sg 励起誤差 S_g(上記。1/nm)
Pg 補助量 P_g = 2 n̂·(k+g)(上記)
Qg 補助量 Q_g = −g·(2k+g)(上記)
Φ re / Φ im 出射面における動力学的回折波の複素振幅 Φ(実部・虚部)
|Φ|^2 その反射の回折強度 |Φ|²
Σ|Φ|^2 |Φ|² の累積和(全反射の和。強度保存の確認に使える)

ポテンシャルの単位とその他のコントロール

  • Unit of potential — ポテンシャルの表示単位を Vg [eV](電位、eV)と Ug [nm⁻²](ブロッホ波方程式に入る換算量 U_g = 2m₀/h² · V_g)で切り替えます。単位に応じて表の列見出しも Vg / V'gUg / U'g に変わります。
  • 表上部に、加速電圧・波長(= 1/k_vac)・相対論的質量比 m/m₀・速度比 v/c・格子体積・試料厚さ・(CBEDモードの)電子線の最大半角が表示されます。
  • Note 1: 長さの単位は Å ではなく nmNote 2: 波数の単位は 2π/nm ではなく 1/nm
  • Effective digit — 表に表示する有効桁数。Auto resize row width — 列幅の自動調整。Copy to clipboard — 表を表計算ソフトへ貼り付け可能なテキストとして出力します(このフォームは日本語UIでも英語表示です)。