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Spot ID v1

Spot ID v1 erkennt, fittet und indiziert Beugungsreflexe aus experimentellen Elektronenbeugungsbildern. Zusätzlich unterstützt es die manuelle Zonenachsensuche anhand einer numerisch eingegebenen Reflexgeometrie (das frühere TEM ID).

Spot ID v1


Tastatur- & Maus-Kurzbefehle

Spot ID v1 nimmt die Reflexgeometrie als numerische Eingabe entgegen (der frühere TEM ID-Arbeitsablauf), und Reflexerkennung/-fit erfolgt schaltflächengesteuert; das Beugungsbild wird nur zur Referenz angezeigt und ist nicht klickbar (Mauszoom und manuelles Auswählen von Reflexen gehören zu Spot ID v2). Der einzige Kurzbefehl befindet sich im Ergebnisfenster:

Kurzbefehl Aktion
F1 Diese Seite des Online-Handbuchs öffnen
Doppelklick auf eine Zeile in der Ergebnisliste Diesen Kristall auswählen und in die zugehörige Zonenachse drehen

→ Siehe 21. Tastatur- & Maus-Kurzbefehle für einen Überblick über alle Fenster.


Hauptbereich

Zeigt das Beugungsbild zur Referenz an. Bilder werden per Drag & Drop oder über das Menü File geladen.

Bildanpassungen

Einstellung Beschreibung
Min / Max Helligkeitsbereich (auch über den Schieberegler einstellbar)
Gradient Positiv oder Negativ
Scale Linear oder Log
Colour Graustufen oder Cold-Warm
Dust & Scratch Außergewöhnlich helle/dunkle Pixel entfernen (Bereich und Schwellenwert festlegen)
Gaussian blur Weichzeichnung anwenden (Bereich in Pixeln)

Optik

Geben Sie die einfallende Quelle, Energie/Wellenlänge, Kameralänge und Detektor-Pixelgröße ein.

Wird eine dm3/dm4-Datei (Gatan Digital Micrograph) geladen, werden diese Werte automatisch gesetzt.


Reflexerkennung und -fit

Drücken Sie Detect & fit spots, um Beugungsreflexe automatisch zu erkennen und sie mit einer 2D-Pseudo-Voigt-Funktion zu fitten. Die Ergebnisse erscheinen in der Tabelle.

Erkennungsoptionen

Parameter Beschreibung
Number Maximale Anzahl der zu erkennenden Reflexe
Nearest neighbour Mindestabstand zwischen erkannten Reflexen
Fitting range Radius (Pixel) um jeden Reflex für den Fit

Tabellensteuerung

Schaltfläche Aktion
Reset range Fit-Bereich für alle Reflexe zurücksetzen
Show label/symbol Bezeichnungen/Symbole auf dem Bild überlagern
Clear all spots Alle Reflexe entfernen
Save / Copy Tabelle im tabulatorgetrennten Format (Excel) exportieren
Re-fit all Alle Reflexe neu fitten

Reflexdetail-Fenster

Aktivieren Sie das Kontrollkästchen, um ein Detailfenster zu öffnen, das den ausgewählten Reflex (links) und Profile in vier Richtungen (rechts) zeigt. Blau = Messdaten, rot = Fit.


Index

Drücken Sie Identify spots, um erkannte Reflexe gegen den im Hauptfenster ausgewählten Kristall zu indizieren.

Einstellung Beschreibung
Acceptable error Toleranz für die Indizierung
Single grain / Multi grains Als Einkristall oder als mehrere Körner indizieren (maximale Kornanzahl festlegen)
Show label/symbol Indizierte Bezeichnungen auf dem Bild überlagern
Refine thickness and direction Dynamische Theorie (Bethe-Methode) anwenden, um Probendicke und Kristallorientierung zu verfeinern, die am besten zu den erkannten Intensitäten passen

Zonenachsensuche aus der Reflexgeometrie (früher TEM ID)

Wenn Sie kein Bild zum Laden haben, können Sie dennoch nach Kandidaten-Zonenachsen suchen, indem Sie die Geometrie eines Feinbereichs-Elektronenbeugungsmusters (SAED) von Hand eingeben. Geben Sie die TEM-Beobachtungsbedingungen und die Reflexgeometrie ein und drücken Sie dann Zonenachsen aus drei Mustern suchen, um Kandidaten für die Kristallorientierung zu finden.

TEM-Bedingung

Geben Sie die TEM-Beobachtungsbedingungen ein (Beschleunigungsspannung, Kameralänge usw.).

Foto 1, 2, 3

Geben Sie die Geometrie der Beugungsreflexe ein.

  • Um den Abstand zwischen zwei Reflexen auf dem Detektor einzugeben, verwenden Sie das Feld mm.
  • Wenn Sie den d-Wert kennen, geben Sie ihn in den Einheiten Å oder nm⁻¹ ein.

Three sides mode : Geben Sie die Längen der drei Seiten eines Dreiecks ein, dessen einer Eckpunkt der direct spot ist.

Two sides and an angle mode : Geben Sie die Längen zweier Seiten ein (einschließlich des direct spot) sowie den Winkel zwischen ihnen.


Siehe auch