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Spot ID v2

Spot ID v2 es la versión mejorada de Spot ID con una detección de reflexiones perfeccionada, algoritmos de ajuste mejorados y un motor de indexación más potente.

Spot ID v2


Atajos de teclado y ratón

La lista de reflexiones se construye directamente sobre la imagen cargada. El panel de imagen utiliza la navegación de vista de imagen estándar de ReciPro para desplazar/hacer zoom; para la edición de reflexiones se añaden las combinaciones siguientes.

Atajo Acción
F1 Abrir esta página del manual en línea
Doble clic izquierdo sobre la imagen Añadir una reflexión en ese punto (con ajuste de pico)
CTRL + doble clic izquierdo Añadir una reflexión y marcarla como el haz directo (000)
Clic izquierdo sobre una reflexión Seleccionar la reflexión más cercana
CTRL + clic derecho sobre una reflexión Eliminar la reflexión más cercana
CTRL + teclas de flecha Desplazar la reflexión seleccionada un píxel
Arrastrar con izquierdo / con central (área vacía) Desplazar la imagen
Rueda del ratón Acercar/alejar el zoom en el cursor
Arrastrar con derecho un recuadro Acercar el zoom a la región seleccionada
Doble clic derecho Alejar el zoom
Doble clic en el encabezado de fila de una reflexión (tabla) Hacer zoom a esa reflexión (×2)

Con CTRL+SHIFT+T en la ventana principal se abre/cierra esta ventana.

→ Consulte 21. Atajos de teclado y ratón para ver todas las ventanas de un vistazo.


Menú Archivo

Abrir/guardar una imagen de difracción. Se admite la misma carga mediante arrastrar y soltar que en Spot ID v1, y los metadatos DM3/DM4 de Gatan (longitud de cámara, longitud de onda, tamaño de píxel) se tienen en cuenta automáticamente.


Óptica

Óptica

Fuente incidente

Seleccione el tipo de radiación (rayos X / electrones / neutrones) y ajuste la energía o la longitud de onda.

Longitud de cámara / Tamaño de píxel

La longitud de cámara (mm) y el tamaño de píxel del detector (mm o nm⁻¹). Cuando se carga un archivo DM de Gatan, estos valores se rellenan a partir del encabezado del archivo.


Información de la reflexión

Información del punto

  • Detect & Fit Spots: Detección automática de reflexiones mediante máximos locales y sustracción del fondo.
  • Number: El número máximo de reflexiones que se detectarán.
  • Nearest neighbour: La separación mínima (px) permitida entre reflexiones detectadas. Los picos más cercanos que este valor se fusionan, evitando la doble detección de la misma reflexión.
  • Fitting range (radius): El radio (px) de la región circular utilizada para ajustar el pico de cada reflexión. Los píxeles dentro de este círculo se ajustan con una función pseudo-Voigt.
  • Apply to All: Establece el radio de ajuste de todas las reflexiones al valor actual de Fitting range (radius).
  • Delete spot / Clear spots: Eliminar reflexiones individuales o todas las detectadas.
  • Copy to clipboard: Copiar las posiciones e intensidades de las reflexiones al portapapeles.
  • Details of the spot: Cuando está activado, se abre una ventana que muestra información detallada sobre la reflexión seleccionada actualmente.

Details of the spot


Index

Index

  • Identify Spots: Ejecuta el algoritmo de indexación para encontrar el cristal y el eje de zona que mejor coinciden.
  • Acceptable error: Establece la desviación aceptable en el espaciado interplanar y el ángulo para una coincidencia.
  • Ignore prohibited reflections: Cuando está activado, las reflexiones prohibidas por ejes helicoidales y planos de deslizamiento se tratan como no necesariamente satisfechas durante la búsqueda del eje de zona.
  • Single Grain / Multiple Grains: Buscar una única orientación (monocristal) o varias orientaciones (una región policristalina / multigrano). Para varios granos, Max. num. of grains establece el límite superior del número de granos que se buscarán.
  • Results: Las mejores coincidencias se muestran con el nombre del cristal, el eje de zona [uvw] y los índices individuales de las reflexiones (hkl).

Mejoras respecto a v1

  • Mejor tratamiento del ruido en la detección de reflexiones.
  • Algoritmos de ajuste más robustos con múltiples formas de perfil.
  • Indexación más rápida con algoritmos de búsqueda optimizados.
  • Compatibilidad con reflexiones solapadas y reflexiones satélite.

Véase también